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松田 光司
ESI-News, 7(4), p.7 - 11, 1989/00
低エネルギー電子線(300keV程度)を用いた照射では、物質中での飛程が短いため照射窓や試料までの空気層による吸収や散乱の影響を受け易い。このような電子線吸収エネルギーの測定に適当なプラスチックフイルムを紹介し、その特性と使用法を簡単に解説した。また、照射窓、空気層、試料、基板(試料を置く台座)それぞれの吸収エネルギーをCTAフィルム線量計を用いて測定し、多層吸収体計算コード(EDMULT)と比較した結果を示した。